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福州高低温探针台图片规格参数

磁场低温探针台技术指标：1、 ±2.5T垂直磁场；2、 10K基础温度，温度范围：10K-500K；3、 制冷方式：闭循环制冷，不需要消耗液氦；4、 控温稳定性：优于±200mK；5、 探针臂X方向可移动距离不小于51mm；6、 探针臂Y方向可移动距离不小于25mm；7、 探针臂Z方向可移动距离不小于18mm；8、 直流探针频率范围：DC-50MHz；9、 显微镜系统光学分辨率优于4µm；10、 一个尺寸不小于1.25英寸的接地样品座。

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真空低温电学测试探针台的技术指标：直流探针阻值为50欧姆，为射频RF测量提供很好的匹配阻抗；探针臂分别在防辐射屏及样品台上热沉，减少探针落针对样品温度的影响；基础温度真空指标：约5 × 10-5 Torr；系统配备50 L进口液氮杜瓦.。

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射频探针台可以满足客户射频、微波、毫米波乃至更高频率的太赫兹测试。集成一体式的主动级防震系统保证了射频探针压针的准确、稳定。厂家配套生产相应的射频探针、校准片、校准软件，保证了晶圆级校准的精确性。快速切换的稳定的高低温环境为不同温度下的测试提供了可靠的保证。晶圆级的测试以及晶圆更换可以在常规的任意温度下进行。

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四点探针量测系統规格：电动垂直升降上/下；探针装置 E-Z转换；探针材料：钨/铍铜；表面电阻;电阻率；窗口式操作软件；简单的技术操作和维护；卡盘 4”/6”/8”/；探针间距：1.5mm；尺寸(L/W/H):360mm*200mm*282mm；重量：8.5kg；配置需求

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高低温真空探针台可进行真空环境下的高低温测试（4.2K~500K），可升级加载磁场，低温防辐射屏设计，样品台采用高纯度无氧铜制作，温度均匀性更好，温度传感器采用有着良好稳定性和重复性的PT100或者标定过的硅二极管作为测温装置，支持光纤光谱特性测试，兼容高倍率金相显微镜，可微调移动，器件的高频特性(支持高67GHz频率)，探针热沉设计，LD/LED/PD的光强/波长测试，自动流量控制，材料/器件的IV/CV特性测试等。

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PCB量测探针台（TDR）；高频测试探头GSG / GS / SG；频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ；机台尺寸同LCD 探针台；太阳能产业探针台（Solar Cell 量测系统）；量测软体:；I-V /C-V Curve, Isc, Voc,；Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,；Power Convert Efficiency；采用KEITHLEY Source Meter；可加配任意品牌之太阳光模拟器