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重庆高低温探针台工作原理

探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。

重庆高低温探针台工作原理

双面量测探针台(上下点针方式) ：可兼容DC测试、射频、高频、微波测试；直流到高频量测范围；特点：XY龙门式移动平台，与显微镜精微调装置配合，设计结构稳定，可操控范围广，放置样品以及点针操作方便；可搭配体式显微镜/高倍率长工作距离视频显微镜/高分辨率金相显微镜、荧光显微镜等；探针座可根据移动精度选择，吸附方式可选磁吸附或真空吸附；双面式点针操作，样品固定设计合理。

重庆高低温探针台工作原理

真空低温电学测试探针台的技术指标：1、温度范围：80 K-475 K；2、制冷形式：采用液氮制冷；3、循环时间：小于2.5小时；4、4个直流探针臂，用来做电学实验，可进行直流到50 MHz的电学测量；5、探针臂的可移动距离X方向51 mm；

重庆高低温探针台工作原理

高低温真空磁场探针台应用范围：磁特性测试、微波特性测试、直流、RF特性测试，微电子机械系统，超导电性测试，六盒联盟电路的光电属性，量子点和线，高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等。

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半自动型探针台：chuck尺寸800mm/600mm；X,Y电动移动行程200mm/150mm；chuck粗调升降9mm，微调升降16mm；可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜；针座摆放个数6～8颗；显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"；可搭配Probe card测试；适用领域：8寸/6寸Wafer、IC测试之产品

重庆高低温探针台工作原理

真空探针台可实现高真空环境下的高温及低温电学性能测量，真空腔一体成型，具有设计合理，真空度稳定，温控精度及机械精度高等特点；根据测试温度范围不同，可单选高温或低温等相应组件，温度可达到1000℃，低温部分采用液氮或液氦冷却组件，温度可低至77K/10K，；真空系统可选机械泵或分子泵系统，真空度可达到10-3Torr或10-6Tor。